| 一种测量天线罩微波电厚度的简便方法 | |
| [摘要] |
| 提出了一种天线罩电厚度检测的新方法-微波反射式电厚度测量,给出了该方法的基本原理以及相应的测量系统.与通常天线罩壁电厚度的双探头插入相移测量方法相比,采用单探头测量天线罩壁复反射系数,通过复反射系数相位的变化了解天线罩壁电厚度的相对变化,大大简化了设备,降低了测量时对探头机械定位精度的要求,使测量过程简单易行.由于采用单探头,该方法还可测量双探头无法测量的复杂天线罩顶部位. |
| [英文摘要] |
| [关键词] |
| 微波测量,天线罩电厚度检测,微波多端口反射计 |
| [作者] |
| 韦高 许家栋 温浩 李建周 |
| [作者单位] |
| 西北工业大学电子信息学院,西安,710072;西北工业大学电子信息学院,西安,710072;西北工业大学电子信息学院,西安,710072;西北工业大学电子信息学院,西安,710072 |
| [刊名] |
| 微波学报 |
| [英文刊名] |
| JOURNAL OF MICROWAVES |
| [期刊类别] |
| 无线电电子学与电信技术 |
| [年 卷 期] |
| 2005 21 4 |
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